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當(dāng)前位置：珠海真理光學(xué)儀器有限公司>>納米粒度分析儀>> Nanolink SZ902納米粒度分析儀
NanolinkSZ902系列納米激光粒度儀是繼在SZ901系列納米粒度分析儀后推出的全新一款高性能動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀產(chǎn)品，加持了真理光學(xué)最新研發(fā)的全自動(dòng)聚焦技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)納米樣品的多角度測(cè)量，無(wú)需稀釋即可對(duì)不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測(cè)量，十分適合各種有機(jī)或無(wú)機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級(jí)分析測(cè)試。
Nanolink SZ902納米粒度分析儀的杰出性能和主要特點(diǎn)包括：
◆包含經(jīng)典90°、背向和前向動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒徑，測(cè)量范圍覆蓋0.3nm–15μm*
◆激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析，可準(zhǔn)確預(yù)知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚的傾向性
◆加持自動(dòng)恒溫技術(shù)的最高功率可達(dá)50mW,波長(zhǎng)638nm的固體激光光源，儀器即開(kāi)即用
◆創(chuàng)新的余弦擬合相位分析法（CF-PALS）優(yōu)于目前的頻譜分析法（FFT）和傳統(tǒng)的位相分析法（PALS）
◆創(chuàng)新的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)
◆創(chuàng)新的信號(hào)光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)
◆集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測(cè)器
◆常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)-15°C~120°C,精度±0.1°C
◆新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動(dòng)態(tài)范圍大于1011
◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術(shù)
Nanolink SZ902納米粒度分析儀主要技術(shù)指標(biāo)
| 測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS） |
| 粒徑測(cè)量角度 | 90°,173°（高濃度），12°（Zeta電位） |
| 粒徑測(cè)量范圍 | 0.3nm -15um* |
| 粒徑測(cè)量最小樣品量 | 3ul* |
| 粒徑測(cè)量最小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
| 粒徑測(cè)量最大樣品濃度 | 40%/wv** |
| 檢測(cè)點(diǎn)位置 | 距入射點(diǎn)0~5mm可調(diào) |
| 檢測(cè)點(diǎn)定位精度 | 0.01mm |
| Zeta電位測(cè)量技術(shù) | 余弦擬合位相分析法（CF-PALS） |
| Zeta電位測(cè)量范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
| 適用Zeta電位測(cè)量的粒徑 | 1nm - 120μm* |
| 遷移率范圍 | 最小0，最大無(wú)實(shí)際限制 |
| 最大電導(dǎo)率 | 270mS/cm |
| 電極 | 插入式平板電極、U型毛細(xì)管電極 |
| 分子量范圍 | 340Da - 2x107Da |
| 其它高級(jí)測(cè)量/計(jì)算功能 | 介質(zhì)粘度、折光率、樣品透過(guò)率/濃度、第二維利系數(shù)、顆粒間相互作用力系數(shù)和聚集度指數(shù) |
| 光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長(zhǎng)638nm固體激光器 |
| 光強(qiáng)度調(diào)整范圍 | 自動(dòng)調(diào)節(jié)，0.0001%～100% |
| 相關(guān)器 | 高速數(shù)字相關(guān)器，自適應(yīng)通道配置 |
| 檢測(cè)器 | 高靈敏度APD |
| 溫度控制范圍 | -15°C ~ 120°C |
| 溫度控制精度 | ±0.1°C |
| 進(jìn)樣方式 | 手動(dòng)/自動(dòng) |
| 樣品池（選配） | 12mm比色皿、3μL毛細(xì)管超微量樣品池、40μL微量樣品池 |
| 環(huán)境要求 | 5-40℃，10%-80%相對(duì)濕度（無(wú)凝結(jié)） |
| 工作電源 | AC100V-240V，標(biāo)準(zhǔn)接地，直流電源供電24V/5A |
| 系統(tǒng)重量 | 20kg |
| 外形尺寸 | 430mm x 500mm x 230mm (LxWxH) |
注：* 取決于樣品及樣品池選件 ** 取決于測(cè)量角度
